Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН  
СТРУКТУРА   НАШИ КООРДИНАТЫ   ОБ ИНСТИТУТЕ   НАПРАВЛЕНИЯ   УЧЕНЫЙ СОВЕТ   ДИССЕРТАЦИОННЫЙ СОВЕТ   КОНКУРСЫ/ВАКАНСИИ   ОБРАЗОВАНИЕ   ШКОЛЫ И КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ДОСКА ОБЪЯВЛЕНИЙ  
 СТРУКТУРА | ДИРЕКЦИЯ | ЛАБОРАТОРИИ | АСИЦ 

ПУБЛИКАЦИИ ЛАБОРАТОРИИ ПРИКЛАДНОЙ МАТЕМАТИКИ





слово,
как прописано:


лаборатория N2
Основная
Персонал
    Статьи
    1. Чукалина М.В., Николаев Д.П., "Восстановление формы рентгеновского зонда.", Заводская лаборатория. Диагностика материалов, V77, N8, c.30, 2011г.
    2. 107. Pavlov V. N.; Chukalina M. V.; Veligzhanin A. A.; Y.V. Zubavichus, "Optimum filtering and stochastic optimization in EXAFS data analysis.", Computer Physics Communications, V182, N7, c.1463, 2011г.
    3. A/ Buzmakov, D. Nikolaev, M. Chukalina, G. Schaefer, "Efficient and Effective Regularised ART for Computed Tomography", Proc. of the 33rd Annual International Conference of the IEEE EMBS Boston 2011, V, N, c.6200, 2011г.
    4. S. V. Stefanovsky, A. G. Ptashkin, A. A. Shiryaev, J. V. Zubavitchus, A. A. Veligjanin, J. C. Marra, and M. V. Chukalina., "XAFS of Pu LIII Edge in LaBS Glass. Ceramics for Environmental and Energy Applications: Ceramic Transactions", Ceramic Transactions, V217, N, c.17, 2010г.
    5. Барабаненков М.Ю., Ковальчук А.В. Полушкин Е.А., Сироткин В.В., Холопова Ю.В., Шаповал С.Ю., "Электрооптические характеристики светоизлучающего диода с периодически структурированным контактом", Вестник МГТУ им. Баумана, серия Естественные науки, V33, N2, c.48, 2009г.
    6. V. Sirotkin, A. Svintsov, S. Zaitsev, "Optimization of droplets for UV-NIL using coarse-grain simulation of resist flow", Proceedings of SPIE, V7271, N, c.727121, 2009г.
    7. Павлов В., М. Чукалина, "Новый метод анализа данных EXAFS", Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования., V, N12, c.13, 2009г.
    8. В.В.Аристов, Л.Г.Шабельников, Я.Л.Шабельникова, Т.А.Сагдуллин, В.Я.Панченко, А.В.Евсеев, М.М.Новиков, В.Е.Асадчиков, А.В.Бузмаков, "Рентгеновские преломляющие линзы, имеющие профиль вращения, с масштабным сокращением радиуса кривизны", Доклады Академии Наук, V426, N6, c.750, 2009г.
    9. N.A. Tulina, I.Yu. Borisenko, V.V. Sirotkin, "Reproducible resistive switching effect for memory applications in heterocontacts based on strongly correlated electron systems", Physics Letters A, V372, N44, c.6681, 2008г.
    10. Nikolaos Kehagias, Vincent Reboud, Clivia M. Sotomayor Torres, Vadim Sirotkin, Alexander Svintsov, Sergey Zaitsev, "Residual layer thickness in nanoimprint: Experiments and coarse-grain simulation", Microelectronic Engineering, V85, N, c.846, 2008г.
    11. S. Merino, A. Retolaza, A. Juarros, H. Schift, V. Sirotkin, A. Svintsov, S. Zaitsev, "Refined coarse-grain modeling of stamp deformation in nanoimprint lithography", Nanotechnology: Microsystems, Photonics, Sensors, Fluidics, Modeling, and Simulation - Technical Proceedings of the NSTI Nanotechnology Conference and Trade Show, V1, N, c.368, 2008г.
    12. V. Sirotkin, A. Svintsov, S. Zaitsev, "UV-NIL with optimal droplets", Nanotechnology: Microsystems, Photonics, Sensors, Fluidics, Modeling, and Simulation - Technical Proceedings of the NSTI Nanotechnology Conference and Trade Show, V1, N, c.559, 2008г.
    13. N. Kehagias, V. Reboud, C.M. Sotomayor Torres, V. Sirotkin, A. Svintsov, S. Zaitsev, "The IMPRINT software: quantitative prediction of process parameters for successful nanoimprint lithography", Nanotechnology: Microsystems, Photonics, Sensors, Fluidics, Modeling, and Simulation - Technical Proceedings of the NSTI Nanotechnology Conference and Trade Show, V3, N, c.553, 2008г.
    14. М.В. Чукалина, А. Самогуи, Д. П. Николаев, Д. Шеффер, "Multi-technique data treatment for multispectral image vizualisation", Proc. European Conference on Modelling and Simulation, V21, N, c.234, 2008г.
    15. 90. Чукалина М.В., Бузмаков А.В., Николаев Д.П., Чуличков А.И., Каримов М.К., Расулов Г.А., Сенин Р.А., Асадчиков В.Е ., "Тестовые измерения на лабораторном рентгеновском микротомографе: математическая обработка результатов измерений.", Измерительная техника, V, N2, c.19, 2008г.
    16. V. Sirotkin, A. Svintsov, H. Schift, S. Zaitsev, "Coarse-grain method for modeling of stamp and substrate deformation in nanoimprint", Microelectronic Engineering, V84, N, c.868, 2007г.
    17. V. Sirotkin, A. Svintsov, S. Zaitsev, H. Schift, "Coarse-grain simulation of viscous flow and stamp deformation in nanoimprint", Journal of Vacuum Science & Technology B, V25, N6, c.2379, 2007г.
    18. Funke, H.; Chukalina, M.; Voegelin, A.; Scheinost, A. C., "Improving Resolution in k and r Space: A FEFF-based Wavelet for EXAFS Data Analysis", AIP Conference Proceedings, V882, N, c.72, 2007г.
    19. M. Chukalina, D. Nikolaev, A. Simionovici, ""ART" in X-ray tomography: image noise reduction", Proc. European Conference on Modelling and Simulation, V, N, c.309, 2007г.
    20. 81. Funke H., M. Chukalina, A. C. Scheinost, "A new FEFF-based wavelet for EXAFS data analysis", J Synchrotron Radiation, V, N14, c.426, 2007г.
    21. 80. M. Chukalina, S. Zaitsev, A. Simionovici, C.J. Vanegas, "Two X-ray fluorescence microtomography experimental set ups: standard and confocal collimator apparatus. X-Ray Spectrometry", Spectrochimica Acta B, V6-7, N62, c.544, 2007г.
    22. В.И. Кузнецов, А.А. Фирсов, С.В. Дубонос, М. В. Чукалина, "ОБНАРУЖЕНИЕ АСИММЕТРИИ ПО ОТНОШЕНИЮ К НАПРАВЛЕНИЮ МАГНИТНОГО ПОЛЯ ВО ВЗАИМОДЕЙСТВИИ МЕЖДУ КВАНТОВЫМИ СОСТОЯНИЯМИ ДВУХ СЦЕПЛЕННЫХ СВЕРХПРОВОДЯЩИХ КОЛЕЦ", Известия РАН, сер. Физическая, V71, N8, c.1118, 2007г.
    23. V. Sirotkin, A. Svintsov, S. Zaitsev, H. Schift, "Viscous flow simulation in nanoimprint using coarse-grain method", Microelectronic Engineering, V83, N, c.880, 2006г.
    24. N.A. Tulina, L.S. Uspenskaya, V.V. Sirotkin, Y.M. Mukovskii, D.A. Shulyatev, "Intrinsic inhomogeneities and effects of resistive switching in doped manganites", Physica C, V444, N1-2, c.19, 2006г.
    25. Чукалина М., "Data visualization: from X-ray Measurements to the atomic structure via wavelet", Proc. European Conference on Modelling and Simulation, V, N, c.430, 2006г.
    26. В. В. Сироткин, Н. М. Шмидт, Е. Б. Якимов, "Исследование характеристик объектов с нанометровыми размерами в пленках GaN методом наведенного тока", Известия РАН, сер. Физическая, V69, N4, c.463, 2005г.
    27. N. M. Shmidt, V. V. Sirotkin, A. A. Sitnikova, O. A. Soltanovich, R. V. Zolotareva, E. B. Yakimov, "SEM/EBIC investigations of extended defect system in GaN epilayers", Physica Status Solidi C, V2, N6, c.1797, 2005г.
    28. Функе Х., Шайност А., Чукалина М., "Wavelet analysis of extended x-ray absorption fine structure data.", Physical Review B, V71, N9, c.94110, 2005г.
    29. H. Funke, M. Chukalina, A. Rossberg, "Wavelet analysis of Extendet X-ray Absorption Fine Structure Data", Physica Scripta, V115, N, c.232, 2005г.
           © ИПТМ РАН, 1996-2012