Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН  

 СТРУКТУРА | ДИРЕКЦИЯ | ЛАБОРАТОРИИ | АСИЦ 

ПУБЛИКАЦИИ ЛАБОРАТОРИИ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ





слово,
как прописано:


лаборатория N15
    Статьи
    1. В.В. Казьмирук, Т.Н. Савицкая, "Разработка формирующей линзы для низковольтных электронно-зондовых систем высокого разрешения", Известия РАН, сер. Физическая, V75, N9, c.1263, 2011г.
    2. М.Ю. Барабаненков, В.В. Казьмирук, Т.Н. Савицкая, "Разработка методов детектирования сигналов для электронно-оптического in-situ-мониторинга периодических структур", Известия РАН, сер. Физическая, V75, N9, c.1259, 2011г.
    3. М.Ю.Барабаненков, В.В.Казьмирук, Т.Н.Савицкая, "Разработка метода электрон-оптического in-situ мониторинга периодических структур", Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования., V, N9, c.35, 2010г.
    4. В.В. Казьмирук, Т.Н. Савицкая, "Погрешности измерений линейных размеров структур при регистрации обратно рассеянных электронов в РЭМ", Известия РАН, сер. Физическая, V74, N7, c.1029, 2010г.
    5. M.Yu.Barabanenkov, V.V.Kazmiruk, S.Yu.Shapoval, "Method of matrix Riccati equation for nanoshape control of diffraction gratings", Proceedings of SPIE, V7390, N, c.1, 2009г.
    6. M.Yu.Barabanenkov, V.V.Kazmiruk, "Resonance optical effects and artificial microphotonic electromagnetic materials", ECS Transactions, V23, N1, c.469, 2009г.
    7. V.V.Kazmiruk, M.Yu.Barabanenkov, "Optimization of e-beam systems for wafer defect inspection and for die-to-database verification", ECS Transactions, V23, N1, c.43, 2009г.
    8. В. В. Казьмирук, Т. Н. Савицкая, "НОВЫЕ ПРИНЦИПЫ СОЗДАНИЯ МНОГОЛУЧЕВЫХ МИКРОМИНИАТЮРНЫХ ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ ДЛЯ ДИАГНОСТИКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТРУКТУР", Известия РАН, сер. Физическая, V73, N4, c.485, 2009г.
    9. В. В. Казьмирук, Т. Н. Савицкая, "Определение предельных параметров многолучевых электронно-оптических систем для диагностики полупроводниковых структур", Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования., V10, N, c.37, 2009г.
    10. Казьмирук В.В., "Сканирующие электронные микроскопы МикроСкан серии МС20.", Известия РАН, сер. Физическая, V72, N11, c.1550, 2008г.