Зав. лаб. - Ушаков Николай Георгиевич, д.ф.-м.н.

• характеризационные задачи математической статистики,
• характеризация типов распределений,
• устойчивость характеризаций.

Чукалина Марина Валерьевна, к.ф.-м.н.

• методы количественной зондовой микроскопии (РЭМ, PIXE, рентгенофлуоресцентная): модели и обратные задачи [1-6].
• рентгено-флуоресцентная томография: методы реконструкции[7,8].

1. Дремова Н.Н., Зайцев С.И., Конончук О.В., Ушаков Н.Г., Чукалина М.В., Якимов Е.Б. Новые принципы создания полупроводникового энергочувствительного детектора обратноотраженных электронов. - Известия академии наук, сер. физическая, т. 60, N 2. (1996)72-76.
2. Зайцев С.И., Рау Э.И., Ушаков Н.Г., Чукалина М.В. О задаче восстановления спектров ОРЭ в РЭМ. - Тезисы докладов конференции "Обратные и некорректно поставленные задачи", Москва, МГУ, (1995)23.
3. Аврутин В.С., Гартман Я.М., Зайцев С.И., Зуев А.П.,Изюмская Н.Ф., Ушаков Н.Г., Чукалина М.В. Метод определения размера рентгеновского микрозонда. - Известия академии наук, сер. физическая, т. 61, N 10. (1997)1999-2002.
4. Chukalina M.V., Ushakov N.G., Zaitsev S.I. Signal formation, simulation and inverse problem in scanning fluorescent X-Ray microscopy using focused beams for analysis of the surface relief. Scanning Microscopy, Vol. 11, No. 2. (1997)311-318.
5. Чукалина М. В., Ушаков Н.Г., Зайцев С.И. Восстаановление распределения концентрации примеси в скрытом слое по рентгенофлуоресцентному сигналу (случай тонких пучков). Поверхность, N4, (1999)47-51.
6. M. Chukalina, U. Watjen. Mathematical reconstruction of sample microstructures obtained from PIXe elemental maps. 7th International Conference on Microprobe Technology and Applications - ICNMTA2000, Cite Mondiale, Bordeaux, France, September 10-15, 2000. Book of Abstracts. (2000)73. (представлена в Nuclear Instruments&Methods)
7. A. Simionovoci, M. Chukalina, M. Drakopoulos, I. Snigireva, A, Snigirev, Ch. Schroer, B. Lengeler, F. Adams. X-ray fluorescence microtomgraphy: experiment and reconstruction SPIE, Vol.3772, (1999)304-310.
8. A. Simionovici, Ch. Schroer, M. Chukalina, M. Drakopolous, I. Snigireva, A. Snigirev, B. Lengeler, K. Janssens, F. Adams. High resolution X-ray Fluorescence Microtomography on Homogenous Samples. IEEE Transactions on nuclear Science V.47, No.6, (2000)2736-2741.