Laboratory of Applied Mathematics
List of publication
1995
  1. Chukalina M.V., Ushakov N.G., Zaitsev S.I. X-Ray fluorescent microtopography. Calibration system for X-ray Microscopes.Workshop on Bragg-Fresnel Optics, ESRF, 29030 May, Grenoble, France, (1995)295-302.
1996
  1. Дремова Н.Н., Зайцев С.И., Конончук О.В., Ушаков Н.Г., Чукалина М.В., Якимов Е.Б. Новые принципы создания полупроводникового энерго-чувствительного детектора обратноотраженных электронов. Известия академии наук, сер.физическая, т. 60, N 2. (1996)72-76. Dremova N., Zaitsev S., Chukalina M., Jakimov E. New principles of the energy-dispersive detector manufactoring. Izvestija Akademii Nauk, ser Fiz (in Russian).
  2. Зайцев С.И., Ушаков Н.Г., Чукалина М.В. Рентгеновская флуоресцентная микротопография. Известия академии наук, сер. физическая, т. 60, N 2. (1996)129-134. Zaitsev S., Ushakov N., Chukalina M. X-ray fluorescence microtopography. Izv. Ak. Nauk, ser. Fizich. (in Russian)
  3. S.I. Zaitsev, N.G. Ushakov, M.V. Chukalina. X-ray Fluorescence Microtopography. Bulletin of the Russian Academy of Sciences Physics, Vol. 60, No. 2. (1996)267-271.
  4. Dremova N., Zaitsev S., Chukalina M., Jakimov E. New ideas in the development of back-scattered electron semicondactor detectors. Bulletin of the Russian Academy of Sciences Physics, Vol. 60, No. 2. (1996)324-328.
  5. M.V. Chukalina , N.G. Ushakov, S.I. Zaitsev. Signal formation, simulation and inverse problem in fluorescence X-ray microscopy using focused beams. Proceedings of the 5th International conference XRM'96. Wuerzburg, Germany,(1996)I141-I144.
1997
  1. Аврутин В.С., Гартман Я.М., Зайцев С.И., Зуев А.П., Изюмская Н.Ф., Ушаков Н.Г., Чукалина М.В. Метод определения размера рентгеновского микрозонда. Известия академии наук, сер. физическая, т. 61, N 10. (1997)1999-2002. Avrutin V., Gartman Ja., Zaitsev S., Zuev A., Izjumskaja N., Ushakov N., Chukalina M. X-ray Microprobe size determination. Izv. Ak. Nauk, ser Fizich. (in Russian)
  2. Avrutin V.S., Gartman Ja.M., Zaitsev S.I., Zuev A.P., Iziumskaja N.F., Ushakov N.G., Chukalina M.V. X-ray Microprobe size determination. Bulletin of the Russian Academy of Science. Physics. vol. 61. (1997)1560-1562.
  3. Зайцев С.И., Ушаков Н.Г., Чукалина М.В. Формирование рентгенофлуоресцентного сигнала скрытой границей пленка-подложка.Известия академии наук, сер. физическая, т. 61, N 10. (1997)2003-2006. Zaitsev S., Ushakov N., Chukalina M.. Xray fluorescence signals formed by a baried-backing inteface. Izv. Ak. Nauk. Ser. Fizich. (in Russian)
  4. S.I. Zaitsev, N.G. Ushakov, M.V. Chukalina. Xray fluorescence signals formed by a baried-backing inteface. Bulletin of the Russian Academy of Science. Physics. vol. 61. (1997)1563-1566.
  5. Зайцев С.И., Ушаков Н.Г., Чукалина М.В. Восстановление распределения концентрации примеси в скрытом слое по рентгенофлуоресцентному сигналу (случай тонких пучков). Труды национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ'97), Дубна-Москва, т. 2. (1997)200-205. S. Zaitsev, N. Ushakov, M. Chukalina. Reconstruction of an impurity concentration distribution in latent layer from X-ray fluorescence (microbem case). Proceedings of National Conference on Application of X-ray synchrotron radiation , neitrons and electrons for matter study. Dubna- Moscow, V.2 (1997)200-205 (in Russian).
  6. Chukalina M.V., Ushakov N.G., Zaitsev S.I. Signal formation, simulation and inverse problem in scanning fluorescent X-Ray microscopy using focused beams for analysis of the surface relief. Scanning Microscopy, Vol. 11, No. 2. (1997)311-318.
  7. Зайцев С.И., Ушаков Н.Г., Чукалина М.В. Использовние ренгено флуоресцентной микроскопии для исследования поверхности и пленок. Труды второй международной научно-технической конференции "Микроэлектроника и информатика", Вып.2, (1997)336-342. S. Zaitsev, N. Ushakov, M. Chukalina. Study of surface and layers by X-ray fluorescence Mycroscopy. Proceedings of second National Conference on Microelectronics and Informatic. Zelenograd V.2(1997)336-342 (in Russian).
1998
  1. Аристов В.В., Дубонос С.В., Зайцев С.И., Свинцов А.П., Ушаков Н.Г., Чукалина М.В., Шабельников Л.Г. Фазовый дифференциальный контраст в компланарной с соосной схемах. Материалы Всероссийского совещания "Рентгеновская оптика", Нижний Новгород. (1998)162-163. V. Aristov, S. Dubonos, S. Zaitsev, A. Svintsov, N. Ushakov, M. Chukalina, L. Shabel.nikov. Phase differential conrast in co-planar co-axial scheme. Proceeding of the Workshop on X-ray Optics. Nizhnii Novgorod. (1998) 162-163 (in Russian).
  2. M.V. Chukalina, N.G. Ushakov, S.I. Zaisev. Signal formation, simulation nd inverse problem in XFM using Focused Beams. Status Report from the Fifth International Conference "X-Ray Microscopy and Spectromicroscopy", Wurzburg, August 19-23 1996, Eds. J. Thieme, G. Schmahl, D. Rudolph, E. Umbach. (1998)I141-I144.
1999
  1. Чукалина М. В., Ушаков Н.Г., Зайцев С.И. Восстаановление распределения концентрации примеси в скрытом слое по рентгенофлуоресцентному сигналу (случай тонких пучков). Поверхность, N4. (1999)47-51. Chukalina, Ushakov, Zaitsev. Vosstanovlenie raspredelenija kontsentratsii primesi v skritom sloe po rentgenofluor. Signalu. Poverhnost..
  2. A. Simionovoci, M. Chukalina, M. Drakopoulos, I. Snigireva, A, Snigirev, Ch. Schroer, B. Lengeler, F. Adams. X-ray fluorescence microtomgraphy: experiment and reconstruction SPIE, Vol.3772. (1999)304-310.
2000
  1. High resolution fluorescence tomography on non-homogenous samples A. Simionovici, Ch. Schroer, M. Chukalina, T. Weitkamp, A. Snigirev Nucl. Instr.& Meth. (2000) (to be submitted)
  2. A. Simionovici, M. Chukalina, Ch. Schroer, M. Drakopolous, A. Snigirev, I. Snigireva, B. Lengeler, K. Janssens, F. Adams. High resolution X-ray Fluorescence Microtomography of Homogenous Samples. IEEE Transactions on Nuclear Science V.47, No.6. (2000) 2736-2741. http://www.ieee.org/organizations/pubs/pub_preview/ns_t oc.html.
  3. A. Simionivici, M. Chukalina, M. Drakopoulos, I. Snigireva, A. Snigirev, Ch. Schroer, B. Lengeler, K. Janssens, F. Adams. Proceedings of the VI X-Ray Microscopy Conference, Berkley. (2000).
  4. Т. Вейткамп, М. Дракополос, А. Симионовичи, А. Снигирев, И. Снигирева, М. Чукалина, К. Шроер. Рентгенофлуоресцентная компьютерная томография с использованием синхротронного излучения. Материалы совещания "Рентгеновская Оптика", Нижний Новгород, 22-25 февраля, (2000)66-72. T. Weitcamp, M. Dracopolos, A. Simionovici, A. Snigirev, I. Snigireva, M. Chukalina, K. Shroer. X-ray fluorescence Microtomography with synchrotron radiation. Proceeding of the Workshop on X-ray Optics. Nizhnii Novgorod, February 22-25.Ed. by N.N. Salashenko (2000) 66-72(in Russian).
  5. M.V. Chukalina, V.N. Matveev, V.V. Sirotkin, A.A. Svintsov, S.I. Zaitsev. Deformation and viscouse flow in nanoimprinting. Proceedings of the 8th International Symposium "Nanostructures: Physics and Technology", Ioffe Institute St Petersburg, June 19-23, (2000)121-124.
  6. V. Aristov, M. Chukalina, A. Firsov, T. Ishikawa, S. Kikuta, Y. Kohmura, A. Svintsov, S. Zaitsev " X-Ray Optics differential Contrast: design, optimization, simulation, fabrication.", XRM99, AIP Conference Proc. 507, (2000)554-557,
2001
  1. Т. Вейткамп, М. Дракополос, А. Симионовичи, А.А. Снигирев, И.И. Снигирева, М.В. Чукалина, К. Шроер. Рентгенофлуоресцентная компьютерная томография с использованием синхротронного излучения/ Эксперимент и реконструкция. Поверхность ном.1. (2001)61-65. T. Weitkapmp, M. Dracopolos, A. Simionovici, A. Snigirev, I. Snigireva, M. Chukalina, K, Shroer. X-ray computer tomography with synchrotron radiation: experiment and reconstruction. Poverhnost. 1 (in Russian).
  2. М В. Чукалина, М. Дракополос, А. Симионовичи, А. Снигирев И.Снигирева, Ф. Адамс, К. Янссенс Рентгенофлуоресцентная микротомография Поверхность ном.3 (2001) 40-43. M. Chukalina, M. Dracopolos, A. Simionovici, A. Snigirev, F. Adams, K. Janssens. X-ray fluorescence microtomography. Poverhnost. 3 (2001)40-43.
  3. Simionovici, M. Chukalina, F, Gunzler, Ch. Schroer, A. Snigirev, I. Snigireva, J. Tummler, T. Weitkamp. X-ray microtome by fluorescence tomography. Nucl. Instr&Meth., A 467-468 (2001)889-892.
  4. B. Menez, A. Simionovici, P.Philippot, S. Bohic, F. Gigert, M. Chukalina. X-ray fluorescence micro-tomography og an individual fluid inclusion using a third generation synchrotron light source. Nucl. Instr&Meth., B 181 (2001)749-754.
  5. М.В. Чукалина, У. Войтен, Ф. Мюнник. Модель формирования флуоресцентного сигнала при сканировании МэВ протонным микрозондом. Поверхность. ном. 7 (2001) 29-31. Chukalina M., Woiten U., Mjunnik F..Model of the PIXE signal formation. Poverhnost. 7 (in Russian).
  6. М.В. Чукалина, А. Симионовичи, А.А. Снигирев. Рентгенофлуоресцентная томография: пакет программ для восстАновления изображений по проекциям. Материалы РСНЭ. Май 2001. Поверхность. M. Chukalina, A. Simionovici, A. Snigirev. X-ray fluorescence tomography: software package. Proceedings of National Conference on Application of X-ray synchrotron radiation , neitrons and electrons for matter study. May 2001. Moscow (in Russian).
  7. M.V. Chukalina, U. Watjen. Mathematical reconstruction of sample microstructures obtained from PIXE elemental maps. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 181 (2001) 249-253.
2002
  1. H. Funke, M. Chukalina. Wavelet analysis of EXAFS data. Report FZR-343, (2002)p.45.
  2. Lemelle L., Simionovici A., Truche R., Rau Ch., Chukalina M., Gillet P. A 3D textural study of a 100 .m olivine grain from the Martian meteorite NWA817. Meteoritics and Planetary Science. (2002) (to be submitted).
  3. С.И.Зайцев, М.В.Чукалина. Р. Мастрипполито. Рентгенофлуоресцентная локальная диагностика с использованием конфокального коллиматора для сбора сигнала. Материалы Совещания по ренгеновской оптике. Нижний Новгород 18-23 марта (2002) 293-298. S. Zaitsev, M. Chukalina. X-ray fluorescence diagnostics with confocal collimator for the data collecting.Proceeding of the Workshop on X-ray Optics. Nizhnii Novgorod. (in Russian).
  4. М.В. Чукалина, А. Симионовичи, К. Рау, Л.Ламелле, Ф. Жиле. Исследование зерна нахколита методом рентгено-флуоресцентной томографии: эксперимент и обработка результатов. . Материалы Совещания по ренгеновской оптике. Нижний Новгород 18-23 марта (2002) 286-292 M. Chukalina, A. Simionovici, C. Rau, L. Lammelle, Ph. Gilet. Investigation of nachlite graine by X-ray fluorescence microtomography: experiment and data treztment.Proceeding of the Workshop on X-ray Optics. Nizhnii Novgorod, February 18-23.Ed. by N.N. Salashenko (in Russian).
  5. M. Chukalina, A. Simionovici, A. Snigirev, T. Jeffries. Quantitative characterization of microsamples by X-ray Fluorescence Tomography X-Ray spectroscopy 31, Nr. 6 (2002) 448-450.
  6. A. Simionovici, M. Chukalina, B. Vekemans, L. Lemelle, Ph. Gillet, Ch. Schroer, B. Lengeler, W. Schreder, T. Jeffries, "New results in X-Ray computed fluorescence tomography", in Developments in X-Ray Tomography III, Ulrich Bonse, ed., Proceedings of SPIE Vol. 4503, (2002) 222-229.
  7. M. Chukalina, A. Simionovici, L. Lemelle, L. Vincze, P. Gillet. Investigation of a nakhlite grain by the X-ray fluorescence microtomography. Accepted for poster presentation at the XRM International Conference to be held in Berlin, June 18 - 22, 2002. Manuscript will be published in X-ray Spectroscopy.
  8. Magnetotunnelling spectroscopy of the electron states in the quantum well with embedded self-assembled quantum dots: studies in magnetic fields up to 28 T. Yu. V. Dubrovskii, V. A. Volkov, D. K. Maude, J.-C. Portal, M. V. Chukalina, D. Yu. Ivanov, E. E. Vdovin, L. Eaves, P. C. Main, M. Henini and G. Hill. In Proceedings "N A N O S T R U C T U R E S : PHYSICS AND TECHNOLOGY" (2002)TP.04, p.563 http://edu.ioffe.ru/register/?doc=nano2002abs/nano2002.tex
  9. М.В. Чукалина, А. Симионовичи, К. Шроер, Т. Джеффри, А.Ж.Кун, В.Х.Шроедер, А.А. Снигирев, Б. Ленгелер. Исследование микрообъектов методом рентгенофлуоресцентной томографии. Поверхность 9 (2002)40-44. M.Chukalina, A. Simionovici, K. Schroer, T. Jeffre, A. Kun, W. Schreder, A. Snigirev, B. Lengeler. Study of microobjects by X-ray Fluorescence microtomography. Poverhnost. 9 (in Russian).
2003
  1. M. Chukalina, B. Golosio, A. Simionovici, L. Lemelle, C. Rau, P. Gilet. X-ray fluorescence tomography of an Olivine micro-grain: image reconstruction and analysis. Third workshop on Physics in Signal and Image. Book of Processings. Grenoble, France, 29-31 January, (2003) 233-236.
  2. M.V.Chukalina, Yu.V.Dubrovskii, V.A.Volkov, L.Eaves, D.Yu.Ivanov, E.E.Vdovin, J.-C.Portal, D.K.Maude, M.Henini, G.Hill. Observation and identification of excited two-dimensional magnetopolaron states in quantum well of resonant tunnel junction..Proceedings of Nanostructure (2003)183.
  3. M. Chukalina, A. Simionovici, L. Lemelle, C. Rau, L. Vincze, Ph. Gillet. X-ray fluorescence tomography for non-destructive semi-quantitative study of microobjects. J. Phys. IV France 104(2003)627-630.
  4. М. Чукалина. Идентификация возбужденных магнитополяронных состояний в квантовых ямах с помощью вэйвлет-анализа. Нанофотоника. Материалы совещания, Нижний Новгород 17-20 марта (2003)164-165 Applying of the Wavelet transform for the exitates magnetopolaron states in quantum dots. Nanophotonics. Proceeding of the Workshop, Nizhnii Novgorod, March 17-20 (2003)164.
  5. B. Golosio, A. Simionovici, A. somogyi, L. Lemelle, M. Chukalina, A. Brunetti. Internal elemental microanalysis combining X-ray fluorescence, Compton and transmission tomography. Journal of applied Physics V.94, num. 1 (2003)145-156.
  6. M. Chukalina, H. Funke,Y. Dubrovskii, B. Golossio, S. Shapoval, D. Ivanov, V. Volkov, A. Simionovici, A. Somogyi. WAVELET TRANSFORMATION FOR IMAGE ANALYSIS AND SIGNAL PROCESSING: SOME ESTIMATIONS AND REAL APPLICATIONS The 6-th Open Russian-German Workshop on Pattern Recognition and Image Understanding. August 25-30, Village Katun of Altai Region, Russia (2003)153-156.